產品中心
PRODUCTS
38DL PLUS超聲波測厚儀 產品性能
? 可與雙晶和單晶探頭兼容。
? 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
? 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
? 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
? 內部氧化層/沉積物軟件選項。
? 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 厚度、聲速和渡越時間測量。
? 差分模式和縮減率模式。
? 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。
? 帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
? 用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
? 設計符合EN15317標準。
38DL PLUS超聲波測厚儀 產品應用
對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。
? 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。
? 測量厚度、聲速或渡越時間。
? 帶有默認設置和自定義設置的自動調用應用簡化了厚度測量操作。
測量 | |
雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延時到個回波之間的時間間隔。 |
穿透涂層測量模式 | 利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。 |
穿透漆層回波到回波測量模式 | 在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
單晶探頭測量模式 | 模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。 |
厚度范圍 | 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米 |
探頭頻率范圍 | 標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） |
一般規格 | |
工作溫度范圍 | -10°C～50°C |
鍵區 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。 |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
重量 | 0.814公斤 |
電源 | AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。 |
鋰離子電池供電時間 | 工作時間：少12.6小時，一般14小時，多14.7小時。快速充電：2小時到3小時。 |
標準 | 設計符合EN15317標準。 |
顯示 | |
彩色透反VGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波 |
輸入/輸出 | |
USB | 1.0從接口。 |
RS-232 | 有。 |
存儲卡 | 大容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。 |
視頻輸出 | VGA輸出標準。 |
內置數據記錄器 | |
數據記錄器 | 38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形。 |
文件名稱、ID編碼及注釋 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼，每個位有四個注釋。 |
文件結構 | 9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。 |
報告 | 機載報告總結了數據統計、帶有位置信息的小值/大值、小值回顧、文件比較及報警報告。 |
? 38DL PLUS超聲測厚儀主機
? 充電器/AC適配器
? 內置數據記錄器
? GageView接口程序
? 試塊和耦合劑
? USB線纜
? 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
? 用戶手冊
掃一掃添加微信